Dage X光检查机测试仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求,用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管(Open Tube)技术,在放大倍数方面远远超过了采用闭管(Closed Tube)技术的X光检测仪达到亚微米级,能满足客户更高精度的需求。
Dage X光检测系统专为印制电路板 (PCB) 和半导体行业设计,并且采用了符合人体工程学的设计,可提供高分辨率纳米级焦距 X射线系统,不仅可用于实验室故障分析,也可用于生产环境。
DAGE X光检查机 的 Dage NT 密封传送型 X 射线管是 Dage NT X 射线检测系统的核心部件. 其取代了早期系统中使用的闭合式管和开放式管,性能得到了很大的提升。只有采用密封传送管才能切实提高 X 射线图像的分辨率,同时还能提供大功率,而不影响分辨率和放大率。
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规格 |
XiDat XD7500 |
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尺寸(长x宽x高) |
1450 x 1700 x 1970mm |
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重量 |
1900 KG |
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小聚集光点 |
1micron |
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X光发射管 |
开放管 |
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X 射线管电压范围 |
30-160 KV |
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大检测面积 |
458MM x 407MM |
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大板尺寸 |
508MM x 444MM |
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大样本重量 |
5 KG |
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电源 |
单相 200-230V/16A |
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斜角视图 |
0-70°(360°全方位检测) |
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系统(几何)放大倍率 |
1065x |
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辐射安全标准 |
1uSv/Hr(符合欧美标准)
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主要特点:
DAGE7500 VR X光无损检测系统 主要特征:
? 小分辨率:950纳米(0.95 微米);
? 影像接收器左右偏转角度各70度(共140度),旋转360度;
? 图像采集:1.3M万数字CCD;
? 大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm);
? 大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm);
? 系统 大放大倍数: 至5650X;
? 显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS);
? 安全性: 在机器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等
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